功能介紹
1. 支持Bar條測試,可與自動化耦合握手,耦合對光完成之后自動進行掃描測試。
2. 支持不同類型的CWDM4(MUX和DEMUX)以及100G Lan WDM器件的掃描和全3、帶寬的PDL測試,參數設置靈活,界面可視化、操作非常簡便。
3. 支持多工位對可調光源進行實時并行共享掃描測試,工位互不干擾,無需排隊等待(行業首創,百分百驗證并有多家客戶成功案例,每個工位掃描時間相同,并且申請了專利)。
4. 自動計算ITU IL、Min IL、Max IL、IL uniformity、Ripple、PDL、通道帶寬和中心波長(1dB,3dB等)、Isolation、Slope、Crosstalk等參數。
5. 自動分析計算各種所需的測試參數結果和自動判定測試結果。
6. 失效參數自動區分并標識,使失效數據一目了然。
7. 系統軟件兼容各種可調光源(Agilent,santec,uc等)和各種帶trigger功能的功率計。
測試界面示意圖
系統性能指標
參數 | 指標 | 單位 | ||
最小值 | 典型值 | 最大值 | ||
工作波長 | 1260 | 1360 | nm | |
測試指標 | IL/RIPPLE/PDL/ADJ/NADJ/CWL/BW/TDL/CROSSTALK | |||
插 損 | ±0.1(連接頭測試) | db | ||
不確定度 | ±0.1 (connector test) | |||
測量模式 | 可 調光源+高速功率計 | |||
可測產品類型 | CWDM4(MUX/DEMUX),LAN-WDM,AWG |