Coupler綜合測試系統
Coupler綜合測試系統
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產品功能介紹
1. 一次接線，同時進行全帶寬掃描測試和單點IL,PDL,RL,DIR測試，支持高低溫測試.
2. 一拖四共享寬帶光源和OSA光譜分析儀，節約硬件成本。
3. 兼容1X2, 2X2, 1X4 Coupler產品和WDM器件測試，自動測試并計算IL、WDL、PDL、RL、DIR、UL、TDL等參數。
4. 自動判定測試結果；所有數據通過SQL Server數據庫海量保存，自動批量生成出貨報表。
測試界面示意圖
系統性能指標
參數 | 指標 | 單位 Unit | ||
最小值 | 典型值 | 最大值 | ||
工作波長 | 1260 | 1620 | nm | |
測試指標 | ITU IL/Min IL/Max IL/WDL/Ripple/TDL等參數 | |||
插損（IL）不確定度
| ±0.05（光纖熔接測試） | dB | ||
±0.1（連接頭測試） | ||||
測量模式 | OSW掃描 | |||
單通道掃描時間 | 6-8(AQ6370，1250~1650nm，步距/step 0.1nm) | s | ||
下一個：
沒有了
